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光强分布测定仪     型号:WGZ-II

 

   测定单缝、双缝、光栅、圆孔等干涉、衍射条纹的光强分布及偏振光强变化,配数学式检流计显示。 
  包含单缝、双缝、多缝、单丝、双丝、光栅、圆点、圆孔等可用于测量各种干涉、衍射条纹。